L’objectif de cette thèse est l’analyse des antennes microrubans fabriquées à base de patchs parfaitement conducteurs et supraconducteurs avec et sans couche protectrice utilisant deux méthodes différentes : le modèle de la cavité basé sur les connaissances électromagnétiques et l’approche spectrale conjointement avec les conditions aux limites de la résistivité complexe. La première méthode est choisie puisque, contrairement aux méthodes rigoureuses, elle fournit une compréhension qualitative en plus de requérir des développements mathématiques relativement courts. La deuxième méthode est réservée à l’étude des caractéristiques de résonance d’un patch microbande circulaire supraconducteur à haute température critique avec une couche protectrice. Des résultats numériques sont présentés pour le mode fondamental aussi bien que pour les modes d’ordre supérieur. Une étude paramétrique est menée pour quantifier l’influence de certains paramètres électriques et physiques sur les performances de l’antenne en tenant compte de l’anisotropie uniaxiale dans le diélectrique. Les résultats numériques de chaque structure sont comparés aux données théoriques et expérimentales reportées dans la littérature ouverte.

Dans ce travail, nous proposons une nouvelle méthode pour la détection des micro-ondes acoustiques de volume dans un substrat piézoélectrique (Niobate de Lithium LiNbO3). Nous avons utilisé la classification par réseaux probabilistes de neurones comme un moyen d'analyse numérique afin de classer toutes les valeurs de la partie réelle et la partie imaginaire du coefficient d'atténuation pour les différentes vitesses acoustiques en construisant ainsi un modèle de détection efficace des ondes de volume. Cette étude sera très intéressante dans la modélisation et la réalisation des dispositifs micro-ondes acoustiques tels que les dispositifs à ultrasons basé sur la propagation des micro-ondes acoustiques de volume. En plus, nous pouvons appliquer cette technique sur n’importe qu’elle structure piézoélectrique possédant la même classe cristallographique, il suffit juste de changer les paramètres caractéristiques du matériau considéré.